ㄚ翰 發問時間: 科學化學 · 1 0 年前

我想要知道一些儀器分析的概念

我想要知道一些儀器分析的概念,因為我要打報告是關於儀器分析的,希望各位大大幫我

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  • 1 0 年前
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    感應耦合電漿原子發射光譜法

    一、 方法概要

      本方法利用連續式或同時式感應耦合電漿原子發射光譜儀,搭配側向(Radial/Side-on)或軸向(Axial/End-on)之譜線觀測,來進行樣品中多元素的測定。樣品經霧化後,所形成的氣膠(Aerosol)藉由載送氣流輸送至電漿焰炬,經由無線電波(Radio-frequency)感應耦合電漿的加熱,將各待測元素激發。由各激發原子或離子所發射出的光譜線,經由光柵(Grating)分光,分解出各特定波長的發射譜線。各譜線的強度,再由光檢器(Photosensitive devices)予以偵測。

      本方法具有快速、靈敏及精密的分析特性。量測時,為補償因光譜背景值之不同所導致的誤差,應針對背景值進行修正。背景發射譜線強度量測位置的選擇,以選用分析譜線單側或雙側的位置為原則;基本上係視分析譜線附近之背景譜圖的複雜程度來決定。對於所選用的量測位置,必須儘可能避免其它光譜性的干擾,以及具有與分析譜線位置相同的背景干擾程度者為準。另外,針對譜線重疊的問題,可選用多重變數校正法(Multivariate calibration methods)來進行背景干擾的修正,唯在此方法中,其背景值修正的方法,係以全光譜的變化情形來進行運算,因而並不需再利用待測譜線附近的背景值進行干擾校正的工作。然而,必須注意對於分析譜線變寬的現象,是無法經由背景修正的方式來予以補償(若利用上述背景值校正的方式進行背景值修正,則將造成分析結果準確度變差的問題)。

       利用本方法進行複雜樣品基質的檢測時,應特別注意檢測過程中是否發生加成性干擾(Additive interferences)及相乘性干擾(Multiplicative interference),分析人員應於分析樣品前,利用本方法中提供之各項干擾確認方法,事先確認是否有發生干擾效應,並針對所遭遇的干擾問題,研擬一適當的修正對策,以求得正確的檢測結果。

      在進行光譜測定之前,待測樣品必須先予以溶解,或採用適當的樣品處理方法進行消化處理。唯當欲對地下水樣中之溶解性成份分析時,若該樣品已預先經過濾或酸化處理,則可省略再予消化處理的步驟。

      樣品在分析前,需以適當的方法將樣品溶解或消化。方法參見本署公告之「事業廢棄物檢測方法總則」、「土壤檢測方法總則」及「重金屬檢測方法總則」。

    參考資料: 網路
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  • 5 年前

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