文進 發問時間: 社會與文化語言 · 10 年前

3這篇論文英翻中是什麼意思呀??

samples has merit in its own right,

although caution should be exercised when extrapolating

them to bulk nanocrystalline metals.

In this work, from a previously developed technique for

in situ tensile experiments in scanning electron microscope

[21], we have developed a new in situ tensile testing device

for TEM [22], which can slowly and gently deform an

electron-transparent film, and at the same time retain the

double-tilt capability to perform high-resolution TEM

(HRTEM) observations. Using this device, we have monitored

dislocation dynamics in a nanograined Pt ultrathin

film with an average d of 9 nm. We report Lomer lock

formation through the reaction of full dislocations and their

destruction processes at the atomic scale, as well as the

direct and statistical evidence of the switch to partial dislocations

as d goes below a critical value.The bimetallic strips making up the sheets have different

thermal expansion coefficients. The two plates were arranged

to bend slowly in opposite directions, Fig. 1(a),

actuating the uniaxial pulling of the Pt film at an estimated

strain rate of 104 s1 (see supplementary material [29]

for details). This setup allows the double-tilt capability

during deformation, such that grains can be oriented appropriately

for high-resolution imaging and determination

of the Burgers vectors of dislocations. The real-time evolution

of the film was captured in situ along with deformation

in a JEOL-2010 field emission TEM operating at

200 kV.

As shown in the bright-field TEM image of Fig. 1(b), the

Pt film has nanometer-sized and equi-axed grains, with noFIG. 1 (color online). (a) Homemade testing device used for

in situ tensile pulling of the Pt thin film in a TEM. (b) Brightfield

TEM image of the film, with a selected area diffraction

pattern in the inset. (c) HRTEM image showing grains separated

by high-angle GBs. (d) Statistical distribution of the grain size.

2 個解答

評分
  • 10 年前
    最佳解答

    樣品有可取之在自己的權利,

    但應謹慎行事,當外推

    他們塊體納米晶金屬。

    在這項工作中,從以前開發技術

    原位拉伸實驗,掃描電子顯微鏡

    [21],我們已經開發出一種新的原位拉伸試驗裝置

    瞬變電磁法[22],它可以緩慢地,輕輕地變形一

    電子透明薄膜,並在同一時間保留

    雙傾斜能力進行高分辨率透射電鏡

    (高分辨透射電子顯微鏡)觀察。使用這種設備,我們已經監測

    位錯動力學在納米晶鉑超薄

    電影,平均9 d的波長。我們報告 Lomer鎖

    通過反應形成全脫位和

    銷毀過程在原子尺度,以及

    直接證據和統計部分的轉位錯

    以下為 D進入一個關鍵的value.The雙金屬條組成不同的床單

    熱膨脹係數。安排了兩個板塊

    慢慢彎曲方向相反,圖。 1(一),

    驅動的單軸拉的Pt薄膜,估計

    應變速率為104中二(見補充材料[29]

    有關詳細信息)。此設置允許的雙重傾斜功能

    變形過程中,使得穀物可以適當為導向

    用於高分辨率成像和決心

    Burgers矢量的位錯。實時進化

    這部電影被抓獲隨著變形原位

    在日本JEOL- 2010場發射透射電鏡運轉

    200千伏。

    如圖所示,在明場 TEM照片圖。 1(b)項,

    鉑薄膜具有納米和同等砍掉穀物,與 noFIG。 1(顏色在線)。 (一)使用自製的測試裝置

    拉原位拉伸薄膜的Pt在透射電子顯微鏡。 (二)布賴特

    TEM圖像的電影,與選區衍射

    格局的插圖。 (三)糧食分離高分辨圖像顯示

    由高角度晶界。 (d)統計分佈的晶粒尺寸。

  • 10 年前

    樣本優點是在其自己的權利雖然小心時外推他們大容量納米金屬。在這項工作從一個以前發達國家技術掃描電鏡原位拉伸實驗[21] 我們開發了一種新的原位拉伸測試設備瞬變 [22] 電磁的法的可以慢慢地、 輕輕地變形一電子透明薄膜,並同時保留,執行高解析度透射電鏡雙傾斜能力(正面) 的意見。使用此設備,我們有監測在一個 nanograined 鉑超薄脫位動力學一個平均的 9 d 膜納米。我們報告 Lomer 鎖通過全脫位的反應形成及其在原子級的破壞過程,以及部分脫位交換機直接和統計的證據d 隨以下一個關鍵的 value.The 雙金屬條床單組成具有不同的熱脹係數。安排了兩個板慢慢地在對面 1 圖 (a 時,) 的方向折彎驅動鉑膜在估計的單軸拉104 s1 的應變率 (見補充材料 [29]有關詳細資訊)。此安裝程式允許雙傾斜功能變形情況下,這種顆粒,可以面向適當高解析度成像和測定漢堡向量的混亂。即時的演變這部電影的被捕獲原位隨變形一個 JEOL-2010 年場發射透射電鏡操作在200 kV。1 圖 (b 時,) 的明亮欄位透射電鏡圖像所示,鉑膜具有納米和馬大大削減糧食與 noFIG。1 (線上顏色)。(a) 國產測試裝置的研製原位拉伸拉一透射電鏡中的鉑薄膜。(b) Brightfield這部電影與所選的區域衍射的透射電鏡圖像在插入模式。(c) 正面圖像顯示粒分隔由高角度 gb 為單位).(d) 統計分佈的細微性。

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